イオン銃
-
【用途】
・表面ソフトランディング ・イオンビームスパッタ ・低エネルギークリーニング ・絶縁物クリーニング ・燃料電池電極材の開発 ・二次イオン発生試験 -
μスポット高輝度高精度電子銃 （50keV）/ ＯＭＥ－0750シリーズ
【用途】
●カソードルミネッセンス等 ●高輝度高出力ビーム出力 -
【用途】
・半導体製造装置組込 ・μX線発生源 ・μＲＨＥＥＤ ・超精密電子ビーム溶接 ・電子線照射試験 -
【用途】
●試料表面の帯電中和 ●ガスのイオン化 ●二時電子発生試験 ●TOF用のイオン化、精密帯電試験 -
【用途】
●蛍光体検査 ●電子線照射試験 ●二次電子発生試験 -
【用途】
●表面のニュートラライズ ●表面分析、イオン化 -
【用途】
●蛍光体検査 ●電子線照射試験 -
静電偏向式パルス電子銃（高機能型） / OME-0052PE-HS
【用途】
●TOF分析 -
【用途】
●表面分析 ●オージェ（光電子分光）
